校正装置及び校正方法並びに校正プログラム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：橋本剛 , 鵜澤英久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-144269
公開番号（公開出願番号）：特開2005-326247
出願日： 2004年05月14日
公開日（公表日）： 2005年11月24日
要約：

【課題】精度の高い形状測定が可能となり、投影面の形状に関わらず美しい像を投影する。【解決手段】パターン撮像部14でパターン画像を生成し、その画像を投影装置11に転送し、次に、撮像装置12に撮像命令を出す。撮像装置12で撮像したパターン撮像画像を記憶装置13へと保存し、パターン撮像部14へと出力する。次に、パターン抽出部15が起動されると、記憶装置13からパターン撮像部14で撮影されたパターン撮像画像を読み出す。パターン抽出部15では、読み出したパターン撮像画像を抽出パターン画像として平面領域抽出部16、対応座標算出部17を経て平面射影行列算出部18に転送する。最後にパラメータ推定部19が起動されると、平面射影行列推定部18から平面IDと該平面IDに対応する平面射影行列が受信される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

所定のパターン画像を生成し、該パターン画像を投影像として投影装置により投影出力し、その時の投影面の状態を撮像装置によりパターン撮像画像として撮像するパターン撮像手段と、前記パターン撮像画像から、該画像の画素値を用いて前記パターン画像に該当する画素を抽出して抽出パターン画像とするパターン抽出手段と、前記抽出パターン画像内の抽出画素同士の幾何とパターン画像内の幾何との関係を用いて抽出パターン画像中から投影面内での平面領域を抽出する平面領域抽出手段と、前記平面領域抽出手段で抽出された平面領域上の点とパターン画像上で対応付けられる点を少なくとも4点以上決定する処理を、抽出された全ての平面領域に亘って行なう対応座標算出手段と、前記対応座標から平面上に存在する点同士の関係を表現する平面射影行列を平面領域毎に算出する平面射影行列算出手段と、少なくとも2つ以上の前記平面射影行列から前記投影装置と前記撮像装置各々の内部特性および相対位置、姿勢を算出するパラメータ推定手段と、を備えてなることを特徴とする校正装置。

IPC (4件)：

G01B11/00 , G01B11/26 , G03B21/00 , H04N5/74

FI (4件)：

G01B11/00 H , G01B11/26 H , G03B21/00 D , H04N5/74 D

Fターム (25件)：

2F065AA03 , 2F065AA20 , 2F065AA37 , 2F065BB02 , 2F065EE00 , 2F065FF41 , 2F065HH07 , 2F065JJ03 , 2F065JJ14 , 2F065JJ26 , 2F065PP23 , 2F065QQ00 , 2F065QQ03 , 2F065QQ17 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ28 , 2F065QQ32 , 2F065QQ38 , 2K103AA16 , 2K103AA22 , 2K103AB08 , 2K103BB07 , 5C058EA00

引用特許：

出願人引用 (5件)

特開平4-131819号公報
液晶プロジェクタの歪み補正回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-139786 出願人：日本電気株式会社
特開平8一289237号公報

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