特許

J-GLOBAL ID：200903016368951837

デューティ測定装置、及びデューティ測定方法

発明者： 三村 展弘 ,  渡辺 誠司
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 早瀬 憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-335833
公開番号（公開出願番号）：特開2001-153905
出願日： 1999年11月26日
公開日（公表日）： 2001年06月08日
要約：

【要約】【課題】 被測定信号の時間周期、及びその1周期のHIGH時間を測定することなく、被測定信号のデューティを測定することのできるデューティ測定装置、及びデューティ測定方法を提供する。【解決手段】 電源とグランドとに接続され、被測定信号を出力する出力バッファと、出力バッファの出力側に設けられ、出力バッファ内部のHIGH側の出力インピーダンス、及びLOW側の出力インピーダンスの変動による出力信号の変動を抑える抵抗と、抵抗の一端側端子からの電圧を平滑化する容量とを備え、容量の両端の電圧であるデューティ被測定信号外部出力電圧を測定し、デューティ被測定信号外部出力電圧と、電源の電圧と、グランドの電圧とに基づいて、被測定信号のデューティを算出する。

請求項（抜粋）：

電源とグランドとに接続され、被測定信号を出力する出力バッファと、上記出力バッファの出力側に設けられ、該出力バッファ内部のHIGH側の出力インピーダンス、及びLOW側の出力インピーダンスの変動による出力信号の変動を抑える抵抗と、上記抵抗の一端側端子からの電圧を平滑化する容量とを備えた、ことを特徴とするデューティ測定装置。

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-154160   出願人：富士通株式会社
• 特開昭50-037472
  

審査官引用 (2件)

• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-154160   出願人：富士通株式会社
• 特開昭50-037472