特許

J-GLOBAL ID：200903016739935988

非接触三次元物体形状測定方法および装置

発明者： 石井 明
出願人/特許権者： 石井 明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-192280
公開番号（公開出願番号）：特開平11-344321
出願日： 1998年06月01日
公開日（公表日）： 1999年12月14日
要約：

【要約】【目的】 合焦面を測定断面とし、測定対象の相対移動の結果、測定断面により測定対象を走査して、複数の測定断面の画像から合焦度に基づき輪郭線を順次抽出し、測定対象の三次元形状を測定する方法において、測定対象の相対移動方向が撮像光学系の光軸に垂直もしくは交差する方向に設定でき、測定対象の大きさと移動方向の設定の自由度が大きい測定法を得る。【構成】 撮像レンズの光軸4に対して斜めに設定した測定断面8が合焦面となるように、二次元撮像素子3の受光面7を撮像レンズの光軸4に対し斜めに設定し、撮像レンズの光軸4に対し垂直もしくは交差する方向に測定対象1を相対移動させることにより、測定断面8により測定対象1を走査する。

請求項（抜粋）：

三次元空間に存在する物体の画像を用いて、物体の表面形状を非接触で測定する三次元物体形状測定方法において、撮像レンズの光軸に対して斜めに交差する測定断面の像が結ぶ面に光電変換素子の二次元配列からなる二次元撮像素子の受光面を設置して物体の画像を取得し、前記物体の画像から焦点の合った合焦画像領域を抽出して、前記合焦画像領域から測定断面と物体表面が交差してできる物体の輪郭線を検出することにより物体の三次元形状を測定することを特徴とする非接触三次元物体形状測定方法

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06

FI (3件)：

G01B 11/24 K ,  G01B 11/00 H ,  G01C 3/06 Z

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 多焦点同時検出装置および立体形状検出装置および外観検査装置、並びにその方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-292691   出願人：株式会社日立製作所
• 光学式位置検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-225566   出願人：日本電装株式会社
• 光学式距離計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-201749   出願人：日産自動車株式会社
• 特開昭61-193013
  

引用文献：

審査官引用 (3件)

• “合焦断面法による三次元形状計測”
• “合焦断面法によるシーム形状計測”
• “共焦点照明を併用した合焦断面法による三次元形状計測”