特許
J-GLOBAL ID：200903016863118343

表面プラズモン共鳴センサチップ、並びにそれを用いた試料の分析方法及び分析装置

発明者：
高山 英士

高山 英士 について

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宗林 孝明

宗林 孝明 について

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長池 一博

長池 一博 について


出願人/特許権者：
三菱化学株式会社

三菱化学株式会社 について


代理人 (1件)： 真田 有
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-226574
公開番号（公開出願番号）：特開2003-121350
出願日： 2002年08月02日
公開日（公表日）： 2003年04月23日
要約：
【要約】【課題】 回折格子型の表面プラズモン共鳴センサチップを用いた試料の分析において、誘電率分布や屈折率分布が広範囲な場合でも、限られた計測レンジにおいて光学系の再調整を行うことなく試料の分析を行えるようにし、単波長光源を角度変化させることなく、一定角度で試料の分析を行なえるようにする。【解決手段】 光の照射により表面に表面プラズモン波を誘起しうる金属層3と、金属層3の近傍に形成され、光の照射によりエバネッセント波を生じさせる回折格子5が一定の溝方向及び溝ピッチで形成された複数の回折格子面51,52,53,54とを備え、各回折格子面は、所定の基準平面1aに平行に設けられ、各回折格子面51,52,53,54には同一の溝方向で且つ互いに異なる溝ピッチで回折格子5が形成されていることを特徴としている。
請求項（抜粋）：
光の照射により表面に表面プラズモン波を誘起しうる金属層と、上記金属層の近傍に形成され、光の照射によりエバネッセント波を生じさせる回折格子が一定の溝方向及び溝ピッチで形成された複数の回折格子面とを備え、上記各回折格子面は所定の基準平面に平行に設けられ、上記各回折格子面には同一の溝方向で且つ互いに異なる溝ピッチで回折格子が形成されていることを特徴とする、表面プラズモン共鳴センサチップ。
IPC (6件)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/05 ,  G01N 21/64 ,  G01N 30/88 ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 33/483
FI (6件)：
G01N 21/27 C ,  G01N 21/05 ,  G01N 21/64 G ,  G01N 30/88 Z ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 33/483 C
Fターム (46件)：
2G043AA01 ,  2G043BA14 ,  2G043CA03 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA14 ,  2G043EA18 ,  2G043EA19 ,  2G043GA07 ,  2G043GB19 ,  2G043HA07 ,  2G043KA07 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA11 ,  2G045FA11 ,  2G045GC11 ,  2G045JA01 ,  2G045JA07 ,  2G057AA02 ,  2G057AA04 ,  2G057AB04 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC13 ,  2G059CC16 ,  2G059DD12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE07 ,  2G059FF11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK04 ,  2G059MM05 ,  2G059MM14
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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