特許
J-GLOBAL ID:200903017041205429
レーザ加工装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
伊東 忠彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-365331
公開番号(公開出願番号):特開2004-195491
出願日: 2002年12月17日
公開日(公表日): 2004年07月15日
要約:
【課題】本発明は、加工レーザ光を加工対象物に照射して、溶接、穴開け又は切断等の加工を行うレーザ加工装置に関し、光学式観察装置の温度変化を抑制して、観察精度を向上させることを目的とする。【解決手段】光学式観察装置52を隙間無く囲むように形成された収納部材56と、収納部材56に形成されたウインドウガラス57と、ガルバノスキャナ収納用ケース46と、ガルバノスキャナ収納用ケース46内の温度を調節するクーラント63とを有するレーザ加工装置において、収納部材56で囲まれた領域のガルバノスキャナ収納用ケース46に複数の通気孔67が設けて、クーラント63により収納部材56内の光学式観察装置52の温度制御を行う。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
加工レーザ光をスキャンさせて加工対象物に照射するスキャン光学機構と、
前記スキャン光学機構を密閉するためのスキャン光学機構用フレームと、
前記スキャン光学機構用フレーム内の温度調整を行う温度調整機構と、
前記加工レーザ光によりレーザ加工された前記加工対象物の加工地点の観察を行う光学式観察装置とを備えたレーザ加工装置において、
前記光学式観察装置は、前記スキャン光学機構用フレームの内部に形成されていることを特徴とするレーザ加工装置。
IPC (5件):
B23K26/00
, B23K26/02
, B23K26/08
, B23K26/14
, G02B26/10
FI (5件):
B23K26/00 A
, B23K26/02 C
, B23K26/08 B
, B23K26/14 A
, G02B26/10 F
Fターム (11件):
2H045AB01
, 2H045CB22
, 2H045DA04
, 2H045DA31
, 2H045DA41
, 4E068CA17
, 4E068CB06
, 4E068CC03
, 4E068CE03
, 4E068CG01
, 4E068CG02
引用特許:
審査官引用 (1件)
-
小型レーザセンサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-307790
出願人:三菱重工業株式会社
前のページに戻る