特許

J-GLOBAL ID：200903017083790941

断層撮影装置

発明者： 加藤 三紀彦 ,  上野 功裕 ,  森田 英一
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 杉谷 勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-045139
公開番号（公開出願番号）：特開2002-136509
出願日： 2001年02月21日
公開日（公表日）： 2002年05月14日
要約：

【要約】【課題】 歪みを低減した高精度の断層像が即時に得られ、X線撮影により検出された検出信号から、複数の断層面の画像情報および拡大率を算出するX線断層撮影装置を提供する。【解決手段】 X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dまでの距離と、フラットパネル型X線検出器Dから被検体Mの断層面までの距離と、特定の断層面から前後等間隔に検出する距離、および撮影枚数の情報が予め操作部10から設定入力され、これら設定条件に基づく撮影が行われる。撮影により検出された検出信号がデータ処理部50に入力される。さらに、画像処理部51に検出信号が入力されて各断層面の画像情報と拡大率とが算出され、画像情報蓄積部52にそれぞれ蓄積される。

請求項（抜粋）：

(a)被検体に透過性を有する電磁波を照射する照射源と、(b)被検体を挟んで前記照射源に対向配置されるとともに、被検体を透過した電磁波を検出するフラットパネル型検出器とを備え、(c)前記フラットパネル型検出器は、入射電磁波を電荷または光に変換する変換層を有し、前記変換層で変換された電荷または光を検出して検出信号として蓄積する蓄積素子と、前記蓄積素子に蓄積された検出信号を読み出す読み出し素子とを2次元マトリックス状に配置して構成されており、(d)被検体の断層面上の任意点を透過した電磁波を蓄積するように前記照射源と被検体と前記フラットパネル型検出器とのうちの少なくとも2つを同期させて走査する走査手段を備えたことを特徴とする断層撮影装置。

IPC (4件)：

A61B 6/02 301 ,  A61B 6/02 303 ,  A61B 6/00 300 ,  G01N 23/04

FI (4件)：

A61B 6/02 301 A ,  A61B 6/02 303 A ,  A61B 6/00 300 S ,  G01N 23/04

Fターム (24件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA13 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA08 ,  2G001JA09 ,  2G001JA20 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  4C093AA11 ,  4C093CA05 ,  4C093EA02 ,  4C093EB12 ,  4C093EB17 ,  4C093EC26 ,  4C093EC28 ,  4C093FG04

引用特許：

審査官引用 (2件)

• X線断層撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-263466   出願人：株式会社島津製作所
• X線断層撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-109642   出願人：株式会社東芝