特許
J-GLOBAL ID：200903017112419000
ナノ粒子測定方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-266768
公開番号（公開出願番号）：特開2006-084207
出願日： 2004年09月14日
公開日（公表日）： 2006年03月30日
要約：
【課題】 ナノ粒子の粒子径等を、従来の動的散乱法に比してより高い感度で良好なS/Nのもとに測定することのできる方法および装置を提供する。【解決手段】 媒体中に移動可能に分散させた粒子P群に対し、電極13a等により空間周期を有する電界を印加することで、粒子P群により空間周期的な濃度変化を持たせて擬似的な回折格子を生成させ、その状態で粒子P群に対してレーザ光を照射して得られる回折光を検出し、電界の印加を停止した時点からの回折光の時間変化から、粒子群の拡散係数および粒子径を算出する。多数の粒子Pによる擬似的回折格子による回折光を検出するので、動的散乱法のように個々の粒子による散乱光の揺らぎを検出する場合に比して、信号強度が強く、感度およびS/Nの向上を可能とする。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
媒体中に移動可能に分散させた粒子群に対し、空間周期を有する電界を印加することにより当該粒子群に空間周期的な濃度変化を持たせて疑似的な回折格子を生成させ、その状態で粒子群に対してレーザ光を照射して得られる回折光を検出し、上記電界の印加を停止した時点からの回折光の時間変化から、粒子群の拡散係数および粒子径を算出することを特徴とするナノ粒子測定方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N15/02 A
, G01N15/02 D
, G01B11/08 G
2F065AA26
, 2F065CC00
, 2F065DD04
, 2F065FF48
, 2F065HH13
, 2F065JJ01
, 2F065JJ08
, 2F065JJ18
, 2F065LL30
, 2F065LL42
, 2F065QQ13
, 2F065QQ26
