特許
J-GLOBAL ID：200903017227871259
電子部品実装装置の品質管理方法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-201950
公開番号（公開出願番号）：特開平11-046100
出願日： 1997年07月28日
公開日（公表日）： 1999年02月16日
要約：
【要約】【課題】 電子部品の吸着位置と姿勢を客観的に把握することにより、この電子部品がプリント基板に実装された製品の品質を向上しうる電子部品実装装置の品質管理方法およびその装置を提供することを目的とする。【解決手段】 電子部品供給装置3から吸着ノズル2を用いて電子部品15を吸着保持したときの電子部品15の位置と姿勢を計測手段31で計測し、計測結果に基づいて補正手段32が吸着ノズル2に必要な補正を行った後の吸着ノズル2により電子部品15をプリント基板5上に実装する際に、個々の計測値をメモリ33に記憶しておき、この計測値の集合に所定の統計処理を施して各電子部品供給装置3ごとの統計処理結果を出力手段35で出力することにより、電子部品15の吸着位置と姿勢を客観的に把握できる。
請求項（抜粋）：
複数の電子部品を同一方向に所定の供給ピッチで1個ずつ供給可能な電子部品供給装置が並設された供給テーブルを電子部品の供給方向と直角に移動させることにより、所望の電子部品供給装置を所定の供給位置に位置決めし、この位置決めされた電子部品供給装置から、吸着ノズルを用いて電子部品を吸着保持し、この吸着保持された電子部品の位置と姿勢を計測し、この計測結果に基づいて吸着ノズルに必要な補正を行い、この補正後の吸着ノズルにより電子部品をプリント基板上に実装する電子部品実装装置の品質管理方法において、前記吸着ノズルにより吸着保持された電子部品の位置と姿勢を計測した個々の計測値をメモリに記憶しておき、これらの計測値の集合に所定の統計処理を施して各電子部品供給装置ごとの統計処理結果を出力することを特徴とする電子部品実装装置の品質管理方法。
IPC (3件)：
H05K 13/08
, G05B 19/18
, H05K 13/04
H05K 13/08 Z
, H05K 13/04 A
, G05B 19/18 W
