特許

J-GLOBAL ID：200903017274545556

電磁波測定装置

発明者： 瀧川 信一
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 新居 広守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-182202
公開番号（公開出願番号）：特開2008-008862
出願日： 2006年06月30日
公開日（公表日）： 2008年01月17日
要約：

【課題】動く被測定物、又は被測定物を動かしながら、その被測定物の空間情報及び時間情報をリアルタイムに取得できる電磁波測定装置を小型に実現する技術を提供する。【解決手段】通過する光に対してその光の進行方向に垂直な面内で光学長が異なる複数の領域を有し、前記複数の領域にプローブ光138が入射され、各領域から遅延が異なる複数の時間差プローブ光139を出力する遅延時間変調素子21と、前記複数の時間差プローブ光139とテラヘルツ波136とが重畳して入射され、各時間差プローブ光139を前記テラヘルツ波136の電界に応じて変調する電気光学素子116と、前記変調後の各時間差プローブ光を、それぞれ異なる画素で検出するイメージセンサ119とを備え、前記遅延時間変調素子は、前記テラヘルツ波の1波長に含まれる大きさの複数の部分にそれぞれ前記複数の領域を有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

通過する光に対してその光の進行方向に垂直な面内で光学長が異なる複数の領域を有し、前記複数の領域にプローブ光が入射され、各領域から遅延が異なる複数の時間差プローブ光を出力する遅延時間変調素子と、 前記複数の時間差プローブ光と被測定電磁波とを重畳する重畳光学素子と、 前記重畳された複数の時間差プローブ光と被測定電磁波とを入射され、各時間差プローブ光を前記被測定電磁波の電界に応じて変調する電気光学素子と、 前記変調後の各時間差プローブ光を、それぞれ異なる画素で検出するイメージセンサと を備えることを特徴とする電磁波測定装置。

IPC (2件)：

G01N 21/35 ,  G01B 11/24

FI (2件)：

G01N21/35 Z ,  G01B11/24 K

Fターム (32件)：

2F065AA51 ,  2F065FF46 ,  2F065FF49 ,  2F065GG04 ,  2F065GG08 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL04 ,  2F065LL09 ,  2F065LL33 ,  2F065LL53 ,  2F065NN00 ,  2F065NN06 ,  2G059BB11 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10

引用特許：

出願人引用 (1件)

• テラヘルツパルス光計測方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-175037   出願人：株式会社栃木ニコン, 株式会社ニコン