磁性粒子を用いる被検物質の測定方法並びに該方法に使用する担体及び測定器具

発明者： ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-063733
公開番号（公開出願番号）：特開平9-229936
出願日： 1996年02月26日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：

【要約】【目的】被検物質濃度が低い場合でも試料中の被検物質の有無の判定を容易に行え、従って高感度で試料中の被検物質の測定をすることができる試料中の被検物質の測定方法並びに該方法に使用する担体及び測定器具を提供する。【構成】試料中の被検物質に対する特異的結合物質が固定されて該特異的結合物質により被覆された面を有する担体の該面に、試料と、被検物質に対する特異的結合物質であって前記担体に固定された特異的結合物質と同一又は異なる特異的結合物質が固定された磁性粒子とを接触させる工程、及び前記磁性粒子が前記面に沿って移動するように磁石を作用させる工程を含んでなり、前記面における磁性粒子の分布状態から被検物質の有無を判定することを特徴とする、試料中の被検物質の測定方法並びに該方法に使用する担体及び測定器具。

請求項（抜粋）：

試料中の被検物質に対する特異的結合物質が固定されて該特異的結合物質により被覆された面を有する担体の該面に、試料と、被検物質に対する特異的結合物質であって前記担体に固定された特異的結合物質と同一又は異なる特異的結合物質が固定された磁性粒子とを接触させる工程、及び前記磁性粒子が前記面に沿って移動するように磁石を作用させる工程を含んでなり、前記面における磁性粒子の分布状態から被検物質の有無を判定することを特徴とする、試料中の被検物質の測定方法。

IPC (4件)：

G01N 33/543 521 , G01N 33/543 501 , G01N 33/543 , G01N 33/543 541

FI (4件)：

G01N 33/543 521 , G01N 33/543 501 A , G01N 33/543 501 F , G01N 33/543 541 A

引用特許：

出願人引用 (5件)

特開平2-122266
特開平4-369477
ダニ検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-068752 出願人：大日本印刷株式会社

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審査官引用 (14件)

特開平2-122266
特開平2-122266
特開平2-122266

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