特許

J-GLOBAL ID：200903017389004257

X線透視撮影装置及び方法

発明者： 松本 和弘
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 日比谷 征彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-360522
公開番号（公開出願番号）：特開2005-124620
出願日： 2003年10月21日
公開日（公表日）： 2005年05月19日
要約：

【課題】透視撮影や関心領域の動画像撮影やスポット撮影のそれぞれに応じた所望のX線像を、簡略化された操作により撮影を可能とし、被検体への被曝線量を低減させる。【解決手段】 相関テーブルが撮影前に予め入力され(S1)、記憶される(S2)。撮影者が照射野RをR1に設定すると(S3)、X線絞りが所定量だけ開く(S4)。開度値は制御部に送信され(S5)、相関テーブルに基づいたX線の管電圧(V)、管電流(A)の照射条件により、被検体PにX線が照射される(S6)。照射されたX線は被検体を透過してX線平面検出器に入射後に、読み出されて画像信号に変換される。更に、読出回路による画像信号の読出方法も相関テーブル上で関連付けることができ、例えば互いに隣接する4×4(=16)画素の画像信号を1画素分の画像信号として加算して読み出すように加算制御される(S7)。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

被検体に向けてX線を照射するX線発生手段と、開度を変化することによりX線の照射野を決定する絞り手段と、前記X線発生手段から照射され被検体を透過したX線を検出するX線像検出手段と、前記絞り手段の開度情報又は照射野情報に連動して、前記X線発生手段の照射条件を制御する制御手段とを有することを特徴とするX線透視撮影装置。

IPC (2件)：

A61B6/00 ,  G03B42/02

FI (2件)：

A61B6/00 320Z ,  G03B42/02 Z

Fターム (19件)：

2H013AA21 ,  4C093AA01 ,  4C093CA06 ,  4C093CA15 ,  4C093CA32 ,  4C093EA14 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA13 ,  4C093FA16 ,  4C093FA18 ,  4C093FA25 ,  4C093FA32 ,  4C093FA33 ,  4C093FA42 ,  4C093FA59 ,  4C093FC03 ,  4C093FF28

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特許第2786849号公報
  

審査官引用 (2件)

• X線透視撮影診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-031276   出願人：株式会社東芝
• X線撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-335312   出願人：株式会社日立メディコ