特許

J-GLOBAL ID：200903017441102483

アナログ回路内蔵集積回路のテスト装置及びアナログ回路内蔵集積回路並びにアナログ回路内蔵集積回路のテスト方法

発明者： 江波戸 康志
出願人/特許権者： 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 ,  株式会社東芝
代理人 (1件)： 佐藤 強
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-240459
公開番号（公開出願番号）：特開2000-065903
出願日： 1998年08月26日
公開日（公表日）： 2000年03月03日
要約：

【要約】【課題】 集積回路に内蔵されたアナログ回路ブロックを容易且つ迅速にテストすること。【解決手段】 LSI37がテスト用基板33に装着されると、テスト用基板33上に設けられた配線パターン38を介して、LSI37に内蔵されたアナログ回路ブロック39〜42が縦続に接続される。LSIテスタ32は、アナログ信号発生器34から入力端子IN1に対してテスト信号を出力し、このテスト信号とアナログ信号入力部36で検出した出力端子OUT4からの出力信号とに基づいて、アナログ回路ブロック39〜42を1度にまとめてテストする。

請求項（抜粋）：

集積回路に内蔵された複数のアナログ回路ブロックにテスト信号を入力し、この入力したテスト信号と当該アナログ回路ブロックを通過した出力信号とに基づいて当該アナログ回路ブロックをテストするテスト装置において、前記集積回路がセットされた状態で当該集積回路内の所定のアナログ回路ブロックの出力部を他のアナログ回路ブロックの入力部に接続することにより各アナログ回路ブロックを多段に縦続接続する接続手段を備えたテスト用基板を有し、その縦続接続されたアナログ回路ブロックに前記テスト信号を入力するとともに当該縦続接続されたアナログ回路ブロックから前記出力信号を得るように構成したことを特徴とするアナログ回路内蔵集積回路のテスト装置。

Fターム (7件)：

2G032AA09 ,  2G032AB00 ,  2G032AC03 ,  2G032AJ00 ,  2G032AK04 ,  2G032AK14 ,  2G032AL05

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 集積回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-061306   出願人：シャープ株式会社
• 特開平2-008760
  
• 特開昭64-089820
  
• 特開平2-008760