特許
J-GLOBAL ID:200903017518637563
X線検査方法及び装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
本庄 武男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-106389
公開番号(公開出願番号):特開平6-317543
出願日: 1993年05月07日
公開日(公表日): 1994年11月15日
要約:
【要約】【目的】 イメージングプレートでプリント基板を透過したX線画像を受像して,このX線透過画像を励起光により検出することによりX線検査を行う。【構成】 イメージングプレートは輝尽性蛍光体膜に放射線が照射されると,放射線情報を記憶し,後でその情報を光として取り出すことができる。このときの画像情報としての分解能は,励起光であるレーザービームのスポット径に依存するため拡大画像としなくても検査に必要な分解能を得ることができ,プリント基板1に対し,そのほぼ等倍の画像となる距離にイメージングプレート2を配置しても,X線源3から面状にX線が投射される場合にもプリント基板1を透過したX線はイメージングプレート2上にボケを生じることなく結像する。また,イメージングプレート2は所要の受像面積が得られるので,面積の大きなプリント基板1の場合にもプリント基板1を移動させて分割検査することが解消される。
請求項(抜粋):
プリント基板にX線を照射して,該プリント基板を透過したX線の透過量分布画像を撮像し,該透過量分布画像に基づいてプリント基板の良否を検査するプリント基板のX線検査方法において,上記プリント基板を透過したX線をイメージングプレートで受像し,上記受像したイメージングプレートを励起光で走査してイメージングプレートから発する上記X線の透過量分布に比例した輝尽光を検出してX線透過量分布画像を作成することを特徴とするプリント基板のX線検査方法。
IPC (2件):
引用特許:
審査官引用 (3件)
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はんだ付部のX線検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-261808
出願人:株式会社日立製作所
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特開平3-128447
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特開昭60-125056
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