電子部品認識実装機における装着精度測定方法と測定治具

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：森本義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-331299
公開番号（公開出願番号）：特開平6-177595
出願日： 1992年12月11日
公開日（公表日）： 1994年06月24日
要約：

【要約】【目的】電子部品のリードの曲がりによる影響を受けることなく実装機の装着精度を測定できる測定方法を提供することを目的とする。【構成】実際の電子部品を使用して装着位置ずれを測定するのではなくて、リードパターン10が記録された透光性平板11を実装機で、ランドパターン13が記録されたガラス平板9の上に実装して、リードパターン10とランドパターン13の位置ずれを測定して実装機の装着精度を求める。

請求項（抜粋）：

取り扱う電子部品のリード形状に一致した不透光域のリードパターンが記録された透光性平板を、前記電子部品のリード間隔に対応してランドパターンが記録された平板の上に実装機で実装し、前記透光性平板を通して前記リードパターンと前記ランドパターンの位置ずれを測定する電子部品認識実装機における装着精度測定方法。

IPC (3件)：

H05K 13/04 , G01B 11/24 , G01N 21/88

引用特許：

審査官引用 (8件)

特開平4-344411
特開昭63-162124
特開平4-122842

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