特許
J-GLOBAL ID：200903017625269941
磁気特性解析システム及び磁気特性解析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-073336
公開番号（公開出願番号）：特開2006-258480
出願日： 2005年03月15日
公開日（公表日）： 2006年09月28日
要約：
【課題】 磁束密度の高調波成分を可及的に正確に解析することができるようにする。【解決手段】 電磁場解析装置100は、解析対象の装置における電磁場解析を行い、磁束密度の時系列データを求める。2次元磁気測定装置200は、その磁束密度の時系列データに合わせて算出した電圧指示値を励磁コイル207a〜207dに印加して、試料400における磁束密度Bx、Byと磁界Hx、Hyを測定する。このように電磁場解析装置100で電磁場解析されることにより得られた磁束密度の時系列データは、高調波成分を含むものであるので、この高調波成分をも考慮して電圧指示値を設定することができる。これにより、高調波成分を含んだ回転磁界や交番磁界が発生する場合でも電磁場解析を可及的に高精度に行うことができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
解析対象となる領域の電磁場を解析して、前記解析対象となる領域の磁束密度及び磁界の時系列データを求める電磁場解析手段と、
前記電磁場解析手段により求められた磁束密度の時系列データに基づく磁束密度、又は磁界の時系列データに基づく磁界を磁性体に与えて、前記磁性体の磁束密度と磁界とを測定する磁気特性測定手段と、
前記磁気特性測定手段により測定された磁束密度と磁界とを用いて、前記磁性体の磁気特性を求める磁気特性解析手段とを有することを特徴とする磁気特性解析システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2G017AA01
, 2G017AA07
, 2G017BA03
, 2G017BA11
, 2G017BA16
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献：
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