特許
J-GLOBAL ID：200903017677269680
溶液中のイオン濃度のその場測定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
尾股 行雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-340171
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139689
出願日： 2001年11月06日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
要約：
【要約】【課題】 減衰全内反射法の原理を用いて溶液の吸光度を測定するに際して、真の意味でのその場測定を行うことができ、しかも装置の小型化を図ることができ、溶液中のイオン濃度が高い場合や、溶液中に不溶解粒子や気泡が存在しても正確な吸光度測定を行うことができる溶液中のイオン濃度のその場測定方法および装置を提供する。【解決手段】 コアとクラッドとからなる光ファイバにより構成したプローブ1のクラッドの一部を除去してコアを剥きだしにした測定部2を形成し、この測定部を被測定溶液5中に浸漬し、プローブの両端を吸光光度計3に接続して、吸光光度計から出射した光をプローブの一端から測定部へ導き、測定部で減衰全内反射した反射光をプローブの他端から吸光光度計へ入射させることにより、減衰全内反射による反射光の減衰特性を求め、この減衰特性に基づいて被測定溶液中のイオン濃度を測定する。
請求項（抜粋）：
コアとクラッドとからなる光ファイバにより構成したプローブのクラッドの一部を除去してコアを剥きだしにした測定部を形成し、この測定部を被測定溶液中に浸漬し、プローブの両端を吸光光度計に接続して、吸光光度計から出射した光をプローブの一端から測定部へ導き、測定部で減衰全内反射した反射光をプローブの他端から吸光光度計へ入射させることにより、減衰全内反射による反射光の減衰特性を求め、この減衰特性に基づいて被測定溶液中のイオン濃度を測定することを特徴とする溶液中のイオン濃度のその場測定方法。
Fターム (13件)：
2G059AA01
, 2G059BB04
, 2G059CC02
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF07
, 2G059GG10
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ01
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
