特許

J-GLOBAL ID：200903017813992545

外観検査データの管理方法

発明者： 榊原 城二 ,  田中 希久生
出願人/特許権者： 松下電工株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 成示 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-014746
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201048
出願日： 1995年01月31日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：

【要約】【目的】 異なる種類の検査を行っても、同じ表示手段により検査データを表示することができる外観検査データの管理方法を提供することにある。【構成】 本発明の外観検査データの管理方法は、異なる処理方法を有する複数の外観検査機の検査データのアナログデータをデジタル化を図ることにより、上記複数の外観検査機で得られた検査データを同一の表示手段に合成して表示することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

異なる処理方法を有する複数の外観検査機の検査データのアナログデータをデジタル化を図ることにより、上記複数の外観検査機で得られた検査データを同一の表示手段に合成して表示することを特徴とする外観検査データの管理方法。

IPC (3件)：

G01B 11/30 ,  G01N 21/88 ,  G01N 21/89

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 外観検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-225078   出願人：日立電子株式会社
• 特開昭63-019077