光ファイバ温度・歪測定方法および装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：光石俊郎 , 田中康幸 , 松元洋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-334058
公開番号（公開出願番号）：特開2008-145315
出願日： 2006年12月12日
公開日（公表日）： 2008年06月26日
要約：

【課題】簡単な構成で高効率に光ファイバの温度・歪を測定可能な光ファイバ温度・歪測定方法および装置を提供する。【解決手段】光ファイバ温度・歪測定装置を、測定光を出射する光源部2と、コア領域11の周囲に光軸方向に沿って形成された3つ以上の空孔13を有し、一端に測定光が入射される空孔付光ファイバ1と、空孔付光ファイバ1の他端側に設けられ、空孔付光ファイバ1内で発生して測定光と同方向に進行する前方ブリルアン散乱光を検出し、電気信号に変換する光/電気変換器4と、光/電気変換器4から出力される出力信号の周波数スペクトルを表示するスペクトラムアナライザ5とを備え、得られた出力信号を解析して媒質もしくは空間等の温度または歪を算出する構成とした。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被測定光ファイバの一端から測定光を入射し、前記被測定光ファイバ中に発生するブリルアン散乱光の周波数シフトまたは散乱光強度の変化を測定して前記被測定光ファイバの温度または歪の変化を検出する光ファイバ温度・歪測定方法において、前記被測定光ファイバはコア領域の周囲に光軸方向に沿って形成された3つ以上の空孔を有する空孔付光ファイバであり、前記空孔付光ファイバの一端に測定光を入射し、前記空孔付光ファイバ中に発生し、前記空孔付光ファイバ中を伝搬する前記測定光の進行方向と同方向に進行する前方ブリルアン散乱光の周波数シフトまたは散乱光強度を測定し、測定した前記周波数シフトまたは前記散乱光強度の変化を解析して前記被測定光ファイバの温度または歪を算出することを特徴とする光ファイバ温度・歪測定方法。

IPC (4件)：

G01M 11/00 , G01M 11/02 , G01B 11/16 , G01D 5/353

FI (4件)：

G01M11/00 U , G01M11/02 J , G01B11/16 Z , G01D5/26 D

Fターム (19件)：

2F065AA65 , 2F065BB12 , 2F065CC23 , 2F065DD02 , 2F065FF41 , 2F065LL02 , 2F065LL22 , 2F065LL33 , 2F065LL67 , 2F065QQ25 , 2F065QQ44 , 2F103BA43 , 2F103CA07 , 2F103EC09 , 2F103FA02 , 2G086DD04 , 2G086DD05 , 2G086KK05 , 2G086KK07

引用特許：

出願人引用 (2件)

特開平3-120437号公報
特許第3094917号公報

審査官引用 (1件)

分布型光ファイバセンサシステム
公報種別：再公表公報出願番号：JP2002011413 出願人：岸田欣増

引用文献：

審査官引用 (4件)

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