特許

J-GLOBAL ID：200903018011276190

測距装置

発明者： 宮成 洋
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-032503
公開番号（公開出願番号）：特開平9-229680
出願日： 1996年02月20日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：

【要約】【課題】 2つのセンサーアレイを用いるアクティブAFにおいて、2つのセンサーの感度、出力段のゲイン、光学系の明るさ等のバラツキによる精度劣化を補正する。【解決手段】 2つのセンサーアレイ5、6の受光像31、32に対応するセンサー出力信号波形上の受光像35、36は上記のバラツキによってその最大値SR ,SL と最小値が異なっている。そこで両者の最小値をゼロレベルに規格化すると共に、小さい方の最大値SR を大きい方の最大値SL に規格化した後、両者の相関演算を行って被測距物までの距離を求める。【効果】 予め記憶手段に補正係数を記憶することなく、補正を行うことができる。

請求項（抜粋）：

測定対象に投光する投光手段と、それぞれ複数の光電変換センサが配列され上記測定対象からの反射光を受光するように成された第1、第2の光電変換手段と、上記第1、第2の光電変換手段から出力される第1、第2の信号波形の最大値及び最小値を規格化し、規格化された第1、第2の信号波形の相関演算を行うことにより上記測定対象までの距離を求める演算手段とを備えたことを特徴とする測距装置。

IPC (3件)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/00 ,  H04N 5/00

FI (3件)：

G01C 3/06 V ,  G01B 11/00 B ,  H04N 5/00

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-165212
  
• 特開平4-072508
  
• 測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-017344   出願人：オリンパス光学工業株式会社