LSI装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：吉田研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-131977
公開番号（公開出願番号）：特開平11-328147
出願日： 1998年05月14日
公開日（公表日）： 1999年11月30日
要約：

【要約】【課題】CPUと、周辺回路と、を含むLSI装置に対して、外部からの信号やプログラムを実行させずに、そのLSI装置に内蔵される各機能に対する試験を行う。【解決手段】 LSI装置1に内蔵されているCPUコア2から周辺回路9に対してアクセスを行う代わりに、試験回路3から周辺回路9に対するアクセスを行う。試験回路3からのアクセスを行う場合には、CBIU4はCPUコア2からのアクセスを抑止し、試験回路3からのみ周辺回路9などにアクセスすることを許可する。CBIU4は、CPUコア2からの周辺回路9に対するアクセスと試験回路3からの周辺回路9に対するアクセスとを双方共許可することもできる。試験回路3の内部テーブル32には、一定の条件が成立した場合にアクセスを開始するように、アクセスの開始条件であるトリガー条件が設定される。この内部テーブル32に対する設定は、CPUコア2から行うこともでき、また、LSI装置1の外部から行うこともできる。従って、LSI装置1の内部の各機能に対する詳細な試験ができるようになり、LSI装置1の品質を確保することができる。

請求項（抜粋）：

所定のプログラムを実行し、周辺回路をアクセスするCPUコアと、前記CPUコアがアクセスする前記周辺回路と、前記CPUコアの代わりに前記周辺回路をアクセスするか、又は、前記周辺回路の代わりに前記CPUコアからアクセスされうる試験回路と、を含むことを特徴とするLSI装置。

IPC (3件)：

G06F 15/78 510 , G06F 11/22 360 , G06F 13/00 301

FI (3件)：

G06F 15/78 510 K , G06F 11/22 360 A , G06F 13/00 301 T

引用特許：

審査官引用 (2件)

マイクロコンピユータ
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-316762 出願人：沖電気工業株式会社
特開昭59-165156

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