特許
J-GLOBAL ID：200903018118274301
金属表面上の有機塗膜の厚さ測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高村 順
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-353876
公開番号（公開出願番号）：特開2006-162627
出願日： 2005年12月07日
公開日（公表日）： 2006年06月22日
要約：
【課題】非破壊式方法を使用し有機塗膜の厚さを直接評価することが可能な標準化された測定技術を提供する。【解決手段】金属表面上に形成された少なくとも一つの基準有機塗膜に対する吸収スペクトラムを測定する段階と、この塗膜の吸収スペクトラムにおいて特定波長帯域の吸収強度を算出する段階と、破壊式測定法により基準有機塗膜の厚さを測定する段階と、基準有機塗膜の吸収強度と測定された厚さに基づき、吸収強度と膜厚さの相関性を定義する段階と、金属表面上に形成された被測定対象の有機塗膜に対する吸収スペクトラムを測定する段階と、被測定対象の有機塗膜の吸収スペクトラムにおいて特定波長帯域の吸収強度を算出する段階と、吸収強度と膜厚さの相関性に基づき、被測定対象の有機塗膜の吸収強度から膜厚さを算出する段階を含む有機塗膜の厚さ測定方法を提供する。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
金属表面上に形成された少なくとも一つの基準有機塗膜に対する吸収スペクトラムを測定する段階;
前記基準有機塗膜の吸収スペクトラムにおいて特定波長帯域の吸収強度を算出する段階;
破壊式測定法により前記基準有機塗膜の厚さを測定する段階;
前記基準有機塗膜の吸収強度と前記測定された厚さに基づき、吸収強度と膜厚さの相関性を定義する段階;
金属表面上に形成された被測定対象の有機塗膜に対する吸収スペクトラムを測定する段階;
前記被測定対象の有機塗膜の吸収スペクトラムから前記特定波長帯域の吸収強度を算出する段階;及び、
前記吸収強度と膜厚さとの相関性に基づき、前記被測定対象の有機塗膜の吸収強度から膜厚さを算出する段階
を含む有機塗膜の厚さ測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/06
, G01N 21/35
, G01N 21/33
G01B11/06 Z
, G01N21/35 Z
, G01N21/33
2F065AA30
, 2F065BB02
, 2F065BB17
, 2F065CC19
, 2F065CC25
, 2F065CC31
, 2F065FF42
, 2F065FF46
, 2F065LL67
, 2F065QQ17
, 2G059AA01
, 2G059BB10
, 2G059CC12
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059HH01
, 2G059HH03
, 2G059HH06
, 2G059MM01
, 2G059MM05
