特許
J-GLOBAL ID：200903018475895934
におい測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-363590
公開番号（公開出願番号）：特開平11-174012
出願日： 1997年12月15日
公開日（公表日）： 1999年07月02日
要約：
【要約】【課題】 においセンサの抵抗ドリフト等による測定の精度劣化を防止する。【解決手段】 センサ26と可変抵抗41を直列に接続し、ハーフブリッジを構成する。におい測定の前に、校正部46は可変抵抗41の抵抗値を順次切り替えるように指示を与え、接続点42の電圧Voが1/2Vdに最も近くなる抵抗値Rsを探し可変抵抗41を固定する。におい測定時には、演算処理部45は、抵抗値Rs、電圧Vd及び出力電圧Voよりセンサ26の抵抗値Rsを算出する。RvとRsのバランスがとれているときに抵抗測定のS/Nが最良になり、測定の度毎にバランス調整がなされるので、ドリフトの影響を受けず常に高精度なにおい検知が行なえる。
請求項（抜粋）：
a)二個以上の電極及び感応膜を有し、該感応膜に試料成分が付着すると電極間の抵抗値が変化するセンサと、b)該センサと直列に接続された可変抵抗と、c)該可変抵抗とセンサとを挟んで両端に所定電圧を印加する電圧源と、d)前記センサと可変抵抗との接続点の電圧値を検出する電圧検出手段と、e)におい測定を行なう毎又は所定時間経過毎に、前記所定電圧に対する前記電圧検出手段の検出値が、センサ抵抗の分解能が略最大となる所定比率となるように、前記可変抵抗の抵抗値を調整する校正手段と、を備えることを特徴とするにおい測定装置。
FI (2件)：
G01N 27/12 A
, G01N 27/12 B
