光触媒評価方法および評価装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：萩野平 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-065509
公開番号（公開出願番号）：特開平11-258206
出願日： 1998年03月16日
公開日（公表日）： 1999年09月24日
要約：

【要約】【課題】光触媒膜の能力を簡便に短時間で評価する技術を提供する。【解決手段】光触媒膜2の能力を評価する方法において、光照射3とともに変化する表面電位を測定することによってその能力を評価することを特徴とし、測定雰囲気を不活性ガス雰囲気と酸素および水蒸気存在雰囲気とで測定した表面電位の変化を比較すること、または、測定雰囲気を不活性ガス雰囲気と反応対象化合物存在雰囲気とで測定した表面電位の変化を比較することが好ましい。また、その光触媒膜2の能力の評価装置1は、光照射用光源6と表面電位測定器4からなることを特徴とし、光照射用光源6と表面電位測定器4とガス雰囲気を制御できる容器あるいはガス噴出ノズルを備えていることが好ましい。

請求項（抜粋）：