特許

J-GLOBAL ID：200903018766201891

パターン発生器

発明者： 宝迫 孝弘
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-220977
公開番号（公開出願番号）：特開平8-062304
出願日： 1994年08月22日
公開日（公表日）： 1996年03月08日
要約：

【要約】【目的】 複数のパターン発生器を使用し試験する場合、任意のサイクルのレイテンシ動作を持つメモリ・デバイスを試験できるパターン発生器を実現する。【構成】 個々のパターン発生器に、ドライバパターンと期待値信号を出力するパターン発生部を設ける。また、期待値信号をパターン発生器の動作周期で1サイクルシフトしたディレー期待値信号を出力する1サイクル固定のサイクルシフト回路を設ける。自分を含めた複数のパターン発生器より出力する期待値信号及び自分を除いた複数のパターン発生器より出力するディレー期待値信号から任意の信号を選択するN対1のセレクタを設ける。セレクタにより選択された信号の出力に、設定されたパターン発生器の動作周期だけ遅らせて期待値パターンを出力するサイクルシフト部を設ける。以上のパターン発生器を複数使用して、任意のサイクルシフトを期待値パターンより発生させる。

請求項（抜粋）：

ドライバパターンと期待値信号を出力するパターン発生部(22)と、期待値信号をパターン発生器(120)の動作周期で1サイクルシフトした、ディレー期待値信号を出力する1サイクル固定のサイクルシフト回路(124)と、自分を含めた複数のパターン発生器(120)より出力する期待値信号及び自分を除いた複数のパターン発生器(120)より出力するディレー期待値信号から任意の信号を選択するN対1のセレクタ(123)と、上記N対1のセレクタ(123)により選択された信号を、設定された値だけパターン発生器(120)の動作周期で遅らせて期待値パターンとして出力するサイクルシフト部(21)と、を具備することを特徴としたパターン発生器。

IPC (2件)：

G01R 31/3183 ,  G11C 29/00 303

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 特開平2-067976
  
• LSIテスタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-198216   出願人：横河電機株式会社
• 特開昭64-069973
  
• 特開昭54-012657