特許
J-GLOBAL ID：200903018774654765
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-263183
公開番号（公開出願番号）：特開平9-105624
出願日： 1995年10月11日
公開日（公表日）： 1997年04月22日
要約：
【要約】【課題】 リング状CCDで信号を加算するようにした測距装置において、遠距離の被測距物や反射率の低い被測距物などについても正確な測距を行う。【解決手段】 スポット投光による信号が得にくい遠距離の被測距物や反射率の低い被測距物を測距する場合や外光輝度が高い場合には、投光手段104によるスポット投光をオフとしてスキム手段117、118を動作させずに信号電荷をリングCCD113b、114bにおいて周回させ、2つのセンサーアレイ信号の差分を求めないで測距を行う第2の処理を行うので、このような場合であっても正確な測距が可能になる。
請求項（抜粋）：
距離を測定したい測定対象にスポット投光するための投光手段と、前記測定対象からの反射光を受光して光電変換する複数のセンサーが配列された第1および第2のセンサーアレイと、少なくとも一部がリング状に結合されたリング部を有し電荷を順次蓄積することが可能な電荷転送手段と、前記電荷転送手段で転送されている電荷から一定量の電荷を除去するスキム手段とを備えた三角測距を行う測距装置において、前記スポット投光をオン・オフさせた状態で、前記第1および第2のセンサーアレイの各センサーからの信号電荷を前記リング部において前記スキム手段を動作させつつ周回させ、前記スポット投光のオンとオフとにおける前記第1および第2のセンサーアレイからの信号の差分をそれぞれ求め、前記差分された信号の前記第1および第2のセンサーアレイ上での位置の相対値に基づいて前記測定対象までの距離を求める第1の処理と、前記スポット投光をオフとした状態で、前記第1および第2のセンサーアレイの各センサーからの信号電荷を前記リング部において前記スキム手段を動作させずに周回させ、前記第1および第2のセンサーアレイからの信号の前記第1および第2のセンサーアレイ上での位置の相対値に基づいて前記測定対象までの距離を求める第2の処理とを選択して行うことが可能に構成されていることを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
G01C 3/06 A
, G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
