特許
J-GLOBAL ID：200903018930810926

回路基板の検査装置

発明者：
小泉 信和

小泉 信和 について


出願人/特許権者：
株式会社丸和製作所

株式会社丸和製作所 について


代理人 (1件)： 合志 元延
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-257339
公開番号（公開出願番号）：特開2003-066088
出願日： 2001年08月28日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
要約：
【要約】【課題】 第1に、第1に、各ソケット片との接続作業が容易化され、短絡や断線等の虞もなくなり、第2に、接続関係が正確化し、誤接続・配線間違いが防止され、第3に、邪魔にならず,スペースも取らない等、取扱い面に優れ、第4に、各ソケット片の再使用・リサイクル使用が可能となる、回路基板の検査装置を提案する。【解決手段】 この検査装置12では、検査対象の回路基板Aの回路パターンBに接触したプローブピンから、検出信号が、対応したソケット片3,フレキシブル回路基板Dの接続回路Eの一端部F(端子G),他端部(スルホール)等を経由し、コネクター5から判定部6へと送出され、導通,断線,絶縁,短絡等が確認されて、合否判定される。このように、各ソケット片3とコネクター5との間には、接続回路Eを備えたフレキシブル回路基板Dが、介装されている。
請求項（抜粋）：
検査対象の回路基板に対応する各プローブピン側の各ソケット片と、判定部側の各コネクターとの間に、接続用のフレキシブル回路基板が介装されていること、を特徴とする回路基板の検査装置。
IPC (3件)：
G01R 31/02 ,  G01R 1/06 ,  H05K 3/00
FI (3件)：
G01R 31/02 ,  G01R 1/06 E ,  H05K 3/00 T
Fターム (9件)：
2G011AF04 ,  2G014AA01 ,  2G014AA02 ,  2G014AA03 ,  2G014AA15 ,  2G014AB42 ,  2G014AB43 ,  2G014AB59 ,  2G014AC09
引用特許：
審査官引用 (4件)
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