特許
J-GLOBAL ID：200903019012659600
論理回路の分類評価方法、論理回路の分類評価装置、製品仕様データベース作成方法、製品仕様データベース作成装置、製品仕様推定方法、製品仕様推定装置、論理回路自動階層生成方法及び論理回路自動階層生成装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前田 弘 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-241585
公開番号（公開出願番号）：特開平6-203106
出願日： 1993年09月28日
公開日（公表日）： 1994年07月22日
要約：
【要約】【目的】 論理回路から、その配線関係の特徴を示す分類値を、幾何学的な関係から求める方法を提供する。【構成】 ステップ10において論理回路に含まれる論理素子及び配線関係を電子計算機に入力する。ステップ20において、入力された論理素子及び配線関係から上記論理回路に含まれるすべての論理素子のそれぞれと直接に接続されている1次隣接論理素子の総数である1次隣接論理素子数N1を求める。ステップ30において、入力された論理素子及び配線関係から上記1次隣接論理素子の総数と該1次隣接論理素子のそれぞれと直接に接続されている2次隣接論理素子の総数との合計数である2次以内隣接論理素子数N2を求める。ステップ50において、上記1次隣接論理素子数N1の対数値と上記2次以内隣接論理素子数の対数値N2との差を上記論理回路を特徴づける分類値λとして抽出する。
請求項（抜粋）：
電子計算機を用いて論理回路に含まれる論理素子及び該論理素子同士を接続する配線関係から上記論理回路を特徴づける分類値を抽出する論理回路の分類評価方法であって、論理回路に含まれる論理素子及び配線関係を電子計算機に入力する工程と、入力された論理素子及び配線関係から、上記論理回路に含まれるすべての論理素子のそれぞれと直接に接続されている1次隣接論理素子の総数である1次隣接論理素子数を求める工程と、入力された論理素子及び配線関係から、上記1次隣接論理素子の総数と該1次隣接論理素子のそれぞれと直接に接続されている2次隣接論理素子の総数との合計数である2次以内隣接論理素子数を求める工程と、上記1次隣接論理素子数の対数値と上記2次以内隣接論理素子数の対数値との差を上記論理回路を特徴づける分類値として抽出する工程とを備えていることを特徴とする論理回路分類評価方法。
IPC (2件)：
G06F 15/60 370
, H01L 21/82
