特許

J-GLOBAL ID：200903019253800150

電子部品計測装置の接触装置

発明者： 田上 孝之
出願人/特許権者： ソニー株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-259962
公開番号（公開出願番号）：特開平9-101343
出願日： 1995年10月06日
公開日（公表日）： 1997年04月15日
要約：

【要約】【課題】 計測部のプローブピンが一本で構成されていることによる接続不良を防止して、計測の信頼性を向上した電子部品計測装置の接触装置を提供する。【解決手段】 本発明の計測部は、移動台11、支持台10を備え、移動台11の内面には、図1(b)に示す補助基板101が備えられ、補助基板101には位置をずらした2個からなる第1プローブピン102、第2プローブピン103、および配線パターン16が配設される。支持台10の下部両側面には、図1(c)に示す配線パターン104が形成された接触用基板100が配設され、基台2に接続されている。プローブピンを2個構成として、接触用基板によって基台2との接続を図ったため、更なる計測の信頼性を向上することが可能となる。

請求項（抜粋）：

計測用回路を組み込んだ基台上に、両側に複数の端子を有する電子部品を載置する支持台と、前記支持台の下方両側面には前記基台と接続する接触用基板と、前記支持台を挟んで相対する位置には移動可能な移動台とを有し、前記支持台を跨いで前記電子部品を載置し、前記移動台を前記支持台方向に移動して前記電子部品の電気特性を計測する電子部品計測装置の接触装置において、前記移動台の各々の内側面には、前記電子部品の前記端子に接続する第1の探針列と、前記接触用基板に接続する第2の探針列と、更にこれらを導電材料を以て接続する補助基板とを備え、該第1の探針列および該第2の探針列を、複数個配設して接続の信頼性を図ることを特徴とする電子部品計測装置の接触装置。

IPC (2件)：

G01R 31/26 ,  G01R 31/28

FI (2件)：

G01R 31/26 J ,  G01R 31/28 K

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 電子部品計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-004155   出願人：ソニー株式会社