特許

J-GLOBAL ID：200903019330105133

電子部品、その検査方法および検査装置

発明者： 荻浦 美嗣 ,  宇波 俊彦 ,  多保田 純
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-191588
公開番号（公開出願番号）：特開平9-043268
出願日： 1995年07月27日
公開日（公表日）： 1997年02月14日
要約：

【要約】【課題】姿勢確認を簡易な電気的処理を受けるだけで正確に行えるようにした電子部品の提供。【解決手段】多面体からなり、対向する二つの端面1a,1bに互いに異なる極性の電圧を出力する電極2,3が振り分けて形成される電子部品1であって、前述の端面1a,1bに対して直交する一つの面1cにおいて該二つの端面1a,1bのいずれか一方の端面1a寄りの特定位置に、電圧印加用の一対のプローブ端子6が接触しうる大きさの導電性膜4が形成されている。これにより、プローブ端子6を特定の位置に位置決めしている場合、電子部品1が特定の姿勢のときのみ、導電性膜4がプローブ端子6に接触できるようになる。その状態でプローブ端子6に電圧を印加すると、プローブ端子6間に電流が流れるので、この電流によって姿勢が正規の状態であるか否かを認識できる。

請求項（抜粋）：

多面体からなり、対向する二つの端面に互いに異なる極性の電圧を出力する電極が振り分けて形成される電子部品であって、前記電極が形成される端面に対して直交する一つの面において該電極が形成される二つの端面のいずれか一方の端面寄りの特定位置に、電圧印加用の一対のプローブ端子が接触しうる大きさの導電性膜が形成されている、ことを特徴とする電子部品。

IPC (4件)：

G01P 15/00 ,  H01L 21/66 ,  H01L 29/84 ,  H01L 41/08

FI (4件)：

G01P 15/00 Z ,  H01L 21/66 Z ,  H01L 29/84 A ,  H01L 41/08 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 加速度センサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-173018   出願人：株式会社村田製作所
• 特開昭56-084000
  
• 特公昭46-036818