粒子計数システム及びその使用方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人クラスター
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-041064
公開番号（公開出願番号）：特開2007-218785
出願日： 2006年02月17日
公開日（公表日）： 2007年08月30日
要約：

【課題】測定結果の精度は維持しつつ、比較的安価に測定時間の短縮化を図ることが可能な粒子計数システム及びその使用方法を提供する。【解決手段】被検流体中の粒子を検出し計数する複数の粒子計数装置11と、複数の粒子計数装置11から得られる計数結果を処理する情報処理装置17と、を有する粒子計数システムで、複数の粒子計数装置11が多連かつ並列に情報処理装置17に電気的に接続される。或いは、被検流体中の粒子を検出し計数する複数の粒子計数装置11を有する粒子計数システムで、複数の粒子計数装置11のうちのいずれか1の装置に、他の装置が多連かつ並列に電気的に接続される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被検流体中の粒子を検出し計数する複数の粒子計数装置と、前記複数の粒子計数装置から得られる計数結果を処理する情報処理装置と、を有し、前記複数の粒子計数装置が多連かつ並列に前記情報処理装置に電気的に接続される粒子計数システム。

IPC (1件)：

G01N 15/10

FI (1件)：

G01N15/10 B

引用特許：

出願人引用 (1件)

粒子径分布測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-244810 出願人：株式会社堀場製作所

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