特許
J-GLOBAL ID：200903021467013370
粒子径分布測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-244810
公開番号（公開出願番号）：特開2001-074640
出願日： 1999年08月31日
公開日（公表日）： 2001年03月23日
要約：
【要約】【課題】 粒子径分布を演算によって求める場合に用いる各種のパラメータを、誰でも簡単に検索することができる粒子径分布測定装置を提供すること。【解決手段】 装置全体を制御する演算制御部16を用いて測定条件の設定やデータ整理等を行わせるようにした粒子径分布測定装置において、前記演算制御部16に試料や分散媒の名称の一部または全部を入力することにより、粒子径分布演算に必要なパラメータを検索できるようにした。
請求項（抜粋）：
装置全体を制御する演算制御部を用いて測定条件の設定やデータ整理等を行わせるようにした粒子径分布測定装置において、前記演算制御部に試料や分散媒の名称の一部または全部を入力することにより、粒子径分布演算に必要なパラメータを検索できるようにしたことを特徴とする粒子径分布測定装置。
引用特許：
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