特許
J-GLOBAL ID:200903019462112759

放射線分析による材料特定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉村 次郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-047891
公開番号(公開出願番号):特開平8-220031
出願日: 1995年02月14日
公開日(公表日): 1996年08月30日
要約:
【要約】【目的】 特性X線スペクトルと材料について知識がない場合であっても、未知試料の材料の種類を特定することができるようにする。【構成】 既知データ格納部2には複数の既知材料の特性X線スペクトルにそれぞれ対応した複数の既知ピークデータが記憶保持されている。そして、未知試料の特性X線スペクトルに対応した未知ピークデータが入力部4を介して入力されると、演算部6は、この未知ピークデータと既知データ格納部2から読み込んだ複数の既知ピークデータとを照合し、その照合結果に基づいて特定した材料の種類に関する情報を出力部7から出力する。
請求項(抜粋):
複数の既知材料の放射線スペクトルにそれぞれ対応した複数の既知データを記憶保持するステップと、未知試料の放射線スペクトルに対応した未知データと記憶保持された前記複数の既知データとを照合してその各相違量に関するデータを求めるステップと、前記相違量に関するデータに基づいて前記複数の既知データのうち前記未知データと少なくとも最も相違量の小さい既知データに対応した材料の種類に関する情報を出力するステップと、を具備することを特徴とする放射線分析による材料特定方法。
IPC (2件):
G01N 23/225 ,  G01N 23/223
FI (2件):
G01N 23/225 ,  G01N 23/223
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 特開平2-038851
  • 特開昭61-251754
  • 特開平3-225265
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審査官引用 (4件)
  • 特開平2-038851
  • 特開昭61-251754
  • 特開平3-225265
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