特許
J-GLOBAL ID:200903019718299436

劣化評価装置及び劣化評価方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 在原 元司 ,  清水 昇 ,  竹居 信利
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-029901
公開番号(公開出願番号):特開2009-192221
出願日: 2008年02月12日
公開日(公表日): 2009年08月27日
要約:
【課題】観測不可能または観測困難な異質性要因を含めて対象物の劣化過程を評価することができる劣化評価装置及び劣化評価方法を提供する。【解決手段】管理者が複数の対象物を点検して決定した健全度の状態を入力装置から入力すると、データ受付部10が点検データとして受け付ける。劣化特性算出部12は、データ受付部10が受け付けた複数の対象物の健全度に関するデータに基づいて、対象物の劣化特性θi(lk)の平均値(Aveθki)を算出する。異質性パラメータ算出部16は、劣化特性θi(lk)に偏差を生じさせる観測不可能または観測困難な異質性要因毎に異質性パラメータεkを算出する。ベンチマーキング部18は、上記異質性パラメータにより、異質性要因が劣化特性に及ぼす影響を評価し、出力部20が評価結果を出力する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
複数の対象物の健全度に基づき、観測可能な劣化要因毎に前記複数の対象物の劣化特性を算出する劣化特性算出手段と、 前記劣化特性に偏差を生じさせる観測不可能または観測困難な異質性要因毎に前記劣化特性の偏差の指標である異質性パラメータを算出する異質性パラメータ算出手段と、 を備えることを特徴とする複数対象物の劣化評価装置。
IPC (1件):
G01M 19/00
FI (1件):
G01M19/00 Z
Fターム (6件):
2G024AD34 ,  2G024BA12 ,  2G024BA27 ,  2G024CA30 ,  2G024FA03 ,  2G024FA17
引用特許:
出願人引用 (1件)
引用文献:
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