電子的被測定物の測定方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：東島隆治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-030846
公開番号（公開出願番号）：特開平9-243688
出願日： 1997年02月14日
公開日（公表日）： 1997年09月19日
要約：

【要約】【課題】被測定物の動作に必要な補助回路の影響を簡単に取り入れて測定をすること。【解決手段】ネットワークアナライザーで被測定電子デバイスを測定するために、動作状態にあり、かつ測定状態にある被測定電子デバイスを、線形の補助回路に取り付ける。まず、ネットワークアナライザーに対するシステム誤差補正データが、較正用標準を接続することによって、既知の較正法に従って決定する。次に、使用する補助回路に対する特性データが決定され、システム誤差補正データとリンクされて、新しい誤差補正シミュレーションデータがつくられる。最後に、その後被測定デバイスをネットワークアナライザーに接続しての測定において、上記の新しい誤差補正シミュレーションデータがネットワークアナライザーに内蔵されているシステム誤差補正アルゴリズムとともに使われ、被測定デバイスに仮想的に接続された補助回路がシミュレーションされる。

請求項（抜粋）：

動作状態でかつ測定状態で線形の補助回路中に埋め込まれている被測定電子デバイスを、ネットワークアナライザーで測定する方法であって、その方法が:ネットワークアナライザーのシステム誤差補正データを、較正用標準を接続することによって、既知の較正法に従って決定さするステップ、補助回路に対する特性データを決定し、システム誤差補正データと組み合わせて、新しい誤差補正シミュレーションデータをつくるステップ、ネットワークアナライザーに接続された被測定デバイスのその後の測定において、上記の新しい誤差補正シミュレーションデータがネットワークアナライザーに内蔵されたシステム誤差補正アルゴリズムとともに使われて、被測定デバイスに仮想的に接続された補助回路がシミュレーションされるステップ、の各ステップを含むところのネットワークアナライザーによる被測定電子デバイス測定方法。

IPC (4件)：

G01R 27/28 , G01D 18/00 , G01R 31/26 , G01R 31/28

FI (4件)：

G01R 27/28 T , G01D 18/00 , G01R 31/26 A , G01R 31/28 F

引用特許：

出願人引用 (5件)

特開平3-105264
特開平4-083176
ネットワークアナライザー
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-233968 出願人：ローデウントシユバルツゲーエムベーハーウントコンパニーカーゲー

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審査官引用 (5件)

電子構成方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-110015 出願人：エイティーエヌ・マイクロウエーブ・インコーポレーテッド
特開平3-105264
特開平4-083176

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引用文献：

出願人引用 (4件)

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審査官引用 (4件)

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