特許

J-GLOBAL ID：200903019889024176

X線カメラ

発明者： 笠原 達也
出願人/特許権者： 住友化学工業株式会社
代理人 (1件)： 久保山 隆 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-116034
公開番号（公開出願番号）：特開2003-014668
出願日： 2002年04月18日
公開日（公表日）： 2003年01月15日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 X線の線源と真空系の間に存在する空気と窓材による微小散乱を除去し、測定された回折像を解析して得られる回折強度のベースラインの判定が容易で、解析誤差が小さい回折像を与えるX線カメラを提供する。【解決手段】 X線源、装置外枠、X線窓、窓材、試料ホルダー、検出器、散乱ストッパーおよびダイレクトビームストッパーからなるX線カメラであって、前記装置外枠、前記X線窓および前記窓材の内部に前記試料ホルダー、前記散乱ストッパーおよび前記ダイレクトビームストッパーが設置されており、前記装置外枠、前記X線窓および前記窓材の内部が真空に保たれており、前記散乱ストッパーの外径が特定の関係を満たし、前記散乱ストッパーの内径および長さが特定の関係を満たすX線カメラ。

請求項（抜粋）：

X線源、装置外枠、X線窓、窓材、試料ホルダー、検出器、散乱ストッパーおよびダイレクトビームストッパーからなるX線カメラであって、前記装置外枠、前記X線窓および前記窓材の内部に前記試料ホルダー、前記散乱ストッパーおよび前記ダイレクトビームストッパーが設置されており、前記装置外枠、前記X線窓および前記窓材の内部が真空に保たれており、前記散乱ストッパーの外径d1が下記式(1)を満たし、前記散乱ストッパーの内径d2および長さLが下記式(2)を満たすことを特徴とするX線カメラ。(式(1)において、d1は散乱ストッパーの外径、xはX線窓から散乱ストッパー上流側先端までの距離、D1は検出器の直径、X1はX線窓から検出器までの距離を表す。)(式(2)において、d2は散乱ストッパーの内径、Lは散乱ストッパーの長さ、xはX線窓から散乱ストッパー上流側先端までの距離、D2は試料ホルダーの直径、X2はX線窓から試料ホルダーまでの距離を表す。)

IPC (4件)：

G01N 23/205 ,  G21K 1/02 ,  G21K 1/06 ,  G21K 5/02

FI (4件)：

G01N 23/205 ,  G21K 1/02 C ,  G21K 1/06 S ,  G21K 5/02 X

Fターム (14件)：

2G001AA01 ,  2G001BA26 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA02 ,  2G001EA06 ,  2G001EA09 ,  2G001GA05 ,  2G001KA20 ,  2G001LA05 ,  2G001MA05 ,  2G001PA07 ,  2G001SA02 ,  2G001SA30

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 真空チャンバを備えたX線小角散乱装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-104009   出願人：理学電機株式会社