特許
J-GLOBAL ID：200903019986879127

液晶表示装置のアクティブマトリクス基板及びその検査方法

発明者：
永田 尚志

永田 尚志 について

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明比 康直

明比 康直 について

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島田 尚幸

島田 尚幸 について


出願人/特許権者：
シャープ株式会社

シャープ株式会社 について


代理人 (1件)： 山本 秀策
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-267508
公開番号（公開出願番号）：特開平11-109410
出願日： 1997年09月30日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：
【要約】【課題】静電気を各走査線や各信号線に分散することができ、かつ各線を束ねた状態でのリーク検査を可能にする。【解決手段】各走査線102間に各ダイオード11,12を直列接続して挿入すると共に、各走査線102間に各ダイオード13,14を直列接続して挿入している。各ダイオード11,12と各ダイオード13,14の向きは、相互に異なる。バイアス配線32Rからバイアス供給線15a及びバイアス枝線15bを介して各ダイオード11,12間及び各ダイオード13,14間に、リーク検査用の電圧+5V以上のバイアス電圧+10Vを加え、ダイオード11及びダイオード14に5Vの逆バイアス電圧を加える。この結果、短絡配線31Rによって束ねられた各信号線103間にリークがない限り、短絡配線31Rには電流が流れず、リーク検査を実施することができる。
請求項（抜粋）：
絶縁基板上に、複数の信号線及び複数の走査線を相互に直交させて配置し、各信号線及び各走査線によって区画される各領域毎に、それぞれの画素電極を設け、これらの画素電極を各信号線及び各走査線を通じて選択的に駆動する液晶表示装置のアクティブマトリクス基板であって、各信号線間及び各走査線間の少なくとも一方は、複数のダイオードを直列してなる直列回路を介して接続された液晶表示装置のアクティブマトリクス基板。
IPC (4件)：
G02F 1/136 500 ,  G01R 31/00 ,  G09F 9/00 352 ,  G09G 3/36
FI (4件)：
G02F 1/136 500 ,  G01R 31/00 ,  G09F 9/00 352 ,  G09G 3/36
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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