特許
J-GLOBAL ID：200903020012183816

アクティブマトリクス基板の検査方法,アクティブマトリクス基板,液晶装置および電子機器

発明者：
松枝 洋二郎

松枝 洋二郎 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (1件)： 井上 一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-029568
公開番号（公開出願番号）：特開平10-214065
出願日： 1997年01月29日
公開日（公表日）： 1998年08月11日
要約：
【要約】【課題】 本発明の目的の一つは、デジタルドライバを搭載したアクティブマトリクス基板の検査技術を確立することである。【解決手段】 出力端をハイインピーダンス状態とすることができる機能をもつ、データ線を駆動するためのデジタルドライバ(330)と、データ線の、前記デジタルドライバとは反対側の端に設けられた検査回路(340)とを設ける。検査回路(340)は、複数のデータ線の各々毎に設けられた双方向性スイッチと、そのスイッチの開閉を制御する制御手段とをもつ。データ線の反対側に設けられた検査回路を用いて、データ線の断線やデジタルドライバ出力の検査の他、点欠陥の有無も判定できるようになる。また、検査専用の回路としたために極めて小型であり、この回路は、デッドスペースに配置することも可能である。
請求項（抜粋）：
複数の走査線および複数のデータ線と、出力端をハイインピーダンス状態とすることができる機能をもつ、前記複数のデータ線を駆動するためのデジタルドライバと、一本の走査線および一本のデータ線に接続されたスイッチ素子と、前記スイッチ素子の各々に接続された容量と、前記データ線の、前記デジタルドライバとは反対側の端に設けられた検査回路と、を有し、前記検査回路は、前記複数のデータ線の各々毎に設けられた双方向性スイッチと、そのスイッチの開閉を制御する制御手段とを具備することを特徴とするアクティブマトリクス基板。
IPC (4件)：
G09G 3/36 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/133 505 ,  G09F 9/30 338
FI (4件)：
G09G 3/36 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/133 505 ,  G09F 9/30 338
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (7件)
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