特許
J-GLOBAL ID：200903020059527548
印刷半田測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西村 教光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-338181
公開番号（公開出願番号）：特開2001-153629
出願日： 1999年11月29日
公開日（公表日）： 2001年06月08日
要約：
【要約】【課題】 レジストの高さと導電性パターンの高さとの高低差からなる補正データやレーザビームに対する半田の染み込み量からなる補正データを予め算出することにより、半田の変位量の測定精度の向上を図る。【解決手段】 印刷半田測定装置1は、開口部7を有するレジスト5と、開口部7に半田hが印刷された導電性パターン6と、が表面に形成されているプリント基板W表面の変位データを測定するものである。レジスト5の高さと導電性パターン6の高さとの高低差からなる補正データD1やレーザビームに対する半田hの染み込み量からなる補正データD2を、予め補正データ記憶手段3に記憶させておく。センサヘッド2により、プリント基板W表面の変位量を測定する。センサヘッド2から出力された変位データHは、演算処理手段において、補正データD1,D2に基づき演算処理される。
請求項（抜粋）：
開口部(7)を有するレジスト(5)と、前記開口部に半田(h)が印刷された導電性パターン(6)と、が表面に形成されているプリント基板(W)表面の変位データ(H)を測定する印刷半田測定装置において、前記プリント基板に対向配置され、該プリント基板表面にレーザビームを照射する光源(21)と、該光源から出射されたレーザビームを前記プリント基板表面に走査させる偏向手段(22)と、前記プリント基板表面からの反射光の検出位置に基づき前記プリント基板表面の変位データを前記走査範囲内で連続的に検出する受光素子(26)からなる非接触のセンサヘッド(2)と、前記レジストの高さと前記導電性パターンの高さとの高低差からなる補正データ(D1)が予め記憶されている補正データ記憶手段(3)と、前記補正データに基づき前記半田の変位データを演算処理する演算処理手段と、を具備することを特徴とする印刷半田測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/00 B
, G01B 11/24 F
2F065AA06
, 2F065AA24
, 2F065AA56
, 2F065CC01
, 2F065CC26
, 2F065FF01
, 2F065FF44
, 2F065GG04
, 2F065HH04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL08
, 2F065LL13
, 2F065LL62
, 2F065MM16
, 2F065RR06
