特許
J-GLOBAL ID：200903020062226702

大気圧イオン化質量分析装置

発明者：
加藤 義昭

加藤 義昭 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 高田 幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-292028
公開番号（公開出願番号）：特開2000-123781
出願日： 1998年10月14日
公開日（公表日）： 2000年04月28日
要約：
【要約】【課題】不揮発性塩の質量分析に対する影響を防止することができかつその防止に当たって質量分析部の真空が損なわれることのない大気圧イオン化質量分析装置がを提供すること。【解決手段】不揮発性塩を含む溶液はポンプ1からLC/MSインターフェイスのエレクトロスプレイ用噴霧プローブ4に送り込まれ、その先端から大気中6に電荷を持った微細な液滴5として噴霧される。液滴中に含まれる試料イオンはデフレクタ7により偏向を受け、イオンサンプリング細孔17から、質量分析部22に入り、質量分析される。 一方、不揮発性塩はデフレクタ7の影響を受けずに直進し、粒子捕集器13の壁に衝突し、捕捉される。捕捉された塩は結晶として析出するが、この析出した塩は洗浄ノズル11からの洗浄液により洗い流される。
請求項（抜粋）：
試料溶液を大気圧雰囲気中で噴霧してイオンを生成する手段と、大気圧雰囲気中において前記試料溶液の噴霧流の主軸上に設けられた粒子捕集器と、前記生成されたイオンであってかつ前記主軸からずれた軸を通るイオンを質量分析する質量分析計と、前記粒子捕集器を洗浄する手段とを含む大気圧イオン化質量分析装置。
IPC (4件)：
H01J 49/10 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/04
FI (4件)：
H01J 49/10 ,  G01N 27/62 X ,  G01N 30/72 C ,  H01J 49/04
Fターム (4件)：
5C038EE02 ,  5C038EF04 ,  5C038EF33 ,  5C038GH04
引用特許：
審査官引用 (10件)
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