特許

J-GLOBAL ID：200903049830375613

イオン源および質量分析装置

発明者： 平林 由紀子 ,  鍋島 貴之 ,  高田 安章 ,  坂入 実 ,  小泉 英明
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-058797
公開番号（公開出願番号）：特開平10-012182
出願日： 1997年03月13日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：

【要約】【課題】 ソニックスプレーイオン源及び質量分析装置において、質量分析装置内部に取り込まれる液滴密度を適正な値にし、ノイズを低減させる。【解決手段】 試料溶液導入部1内の溶液試料は、キャピラリー2に導入される。キャピラリー2はイオン源6に設置される。ガス供給部4から供給されるガスは、ガス管5によってイオン源6に導入され、キャピラリー2の外周部に沿って流され、オリフィス3から大気中に噴出する。ガス流は拡散部材7に当たり拡散される。大気中に生成された微小な液滴またはイオンは、拡散部材7の穴8を通過し、細孔10から質量分析計11内部に取り込まれ、質量分析される。【効果】 従来のソニックスプレーイオン源及び質量分析装置より試料溶液の流量が高い場合でも使用可能となる。オートチューニングにより、ユーザーの調整作業が軽減される。

請求項（抜粋）：

導入された試料溶液を高速のガスにより大気中に噴霧し、溶液に溶け込んでいる試料をイオン化するイオン源と、生成されたイオンを真空中に取り込む細孔と質量分析計を持つ質量分析装置であり、前記イオン源と前記細孔の間に、噴霧された液滴を拡散する拡散部材を設置することを特徴とするイオン源及び質量分析装置。

IPC (3件)：

H01J 40/04 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/14

FI (4件)：

H01J 40/04 ,  G01N 27/62 G ,  G01N 27/62 X ,  H01J 49/14

引用特許：

審査官引用 (2件)

• イオン源及びこれを用いる質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-201767   出願人：株式会社日立製作所
• 液体クロマトグラフと質量分析計の直結方法およびその装置、液体クロマトグラフ-質量分析方法、並びに液体クロマトグラフ結合型質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-308875   出願人：株式会社日立製作所