特許
J-GLOBAL ID:200903020130484413

半導体ナノクリスタルを使用するマイクロアレイ法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大塩 竹志
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-559876
公開番号(公開出願番号):特表2003-522962
出願日: 2001年02月15日
公開日(公表日): 2003年07月29日
要約:
【要約】本発明は、検出を増強するために半導体ナノクリスタルを使用する異なったタイプのアドレス可能なアレイを用いてアッセイを実施する多くの異なった方法を提供する。本発明は、例えば、核酸、タンパク質、および組織のアッセイでナノクリスタルを使用する方法を含む。半導体ナノクリスタルの様々な有用な局面を使用することにより、本発明はまた、多重アッセイを実施するための多くの異なった選択肢を提供する。さらに、半導体ナノクリスタルを含む個々の複合体を計数する検出方法を提供し、この方法は、検出のダイナミックレンジを拡張するのに用いられる。
請求項(抜粋):
サンプル中の目的のリガンドを検出する分析方法であって、該方法は、以下:(a)固体支持体上に位置的に別個の配置で固定化される、第1の複数の抗リガンドを提供して、第1のアレイを提供する工程であって、ここで該複数の抗リガンドが、目的の第1のリガンドに特異的に結合し得る第1の抗リガンドを含む、工程;(b)該アレイをサンプルと接触させる工程であって、該サンプルが、該第1のリガンドを含むか、または含むと推測され、ここで、該第1のリガンドが、該接触の以前、最中または以後に、該第1のリガンドが該第1の抗リガンドに特異的に結合して第1の複合体を形成するような条件下で、リンカーを介して、第1の半導体ナノクリスタルに連結されている、工程;(c)必要に応じて、結合していないリガンドを、該アレイから除去する工程;および(d)該第1の複合体中の該半導体ナノクリスタルの存在を検出し、そして必要に応じて、定量することにより該第1の複合体の配置を同定する、工程、を含む、方法。
IPC (5件):
G01N 33/53 ZNA ,  C12N 15/09 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 33/566 ,  G01N 33/58
FI (6件):
G01N 33/53 ZNA M ,  C12Q 1/68 A ,  G01N 33/566 ,  G01N 33/58 A ,  C12N 15/00 A ,  C12N 15/00 F
Fターム (21件):
2G045AA35 ,  2G045DA13 ,  2G045FB02 ,  4B024AA11 ,  4B024CA04 ,  4B024CA09 ,  4B024CA20 ,  4B024HA13 ,  4B024HA14 ,  4B063QA01 ,  4B063QQ41 ,  4B063QR31 ,  4B063QR41 ,  4B063QR50 ,  4B063QR55 ,  4B063QR82 ,  4B063QS03 ,  4B063QS35 ,  4B063QS36 ,  4B063QS39 ,  4B063QX02
引用特許:
審査官引用 (1件)

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