非破壊検査方法及び非破壊検査装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：中島淳 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-074672
公開番号（公開出願番号）：特開2002-277442
出願日： 2001年03月15日
公開日（公表日）： 2002年09月25日
要約：

【要約】【課題】非磁性体からなる被検査体の亀裂を検出する【解決手段】非磁性体からなる被検査体を着磁処理し、着磁処理した前記被検査体の漏洩磁束密度分布を測定し、前記漏洩磁束密度分布の磁束密度ピーク値の分布パターンに基づく前記被検査体の損傷部の進展方向、前記漏洩磁束密度分布の磁束密度ピーク値に基づく前記被検査体の損傷部の損傷程度、及び前記漏洩磁束密度分布の磁束密度ピーク値間の距離に基づく前記被検査体の損傷部の損傷長、の少なくとも1つを推定する。

請求項（抜粋）：

非磁性体からなる被検査体を着磁処理し、着磁処理した前記被検査体の漏洩磁束密度分布を測定し、前記漏洩磁束密度分布の磁束密度ピーク値の分布パターンに基づく前記被検査体の損傷部の進展方向、前記漏洩磁束密度分布の磁束密度ピーク値に基づく前記被検査体の損傷部の損傷程度、及び前記漏洩磁束密度分布の磁束密度ピーク値間の距離に基づく前記被検査体の損傷部の損傷長、の少なくとも1つを推定する非破壊検査方法。

IPC (3件)：

G01N 27/83 , G01B 7/02 101 , G01B 7/34

FI (3件)：

G01N 27/83 , G01B 7/02 101 , G01B 7/34 A

Fターム (28件)：

2F063AA11 , 2F063AA43 , 2F063BB05 , 2F063BB10 , 2F063BC05 , 2F063DA01 , 2F063DA05 , 2F063DB01 , 2F063DB05 , 2F063DD02 , 2F063GA52 , 2F063LA17 , 2F063LA29 , 2F063MA05 , 2F063ZA01 , 2F063ZA03 , 2G053AA11 , 2G053AA14 , 2G053AB22 , 2G053BA02 , 2G053BA15 , 2G053BB12 , 2G053BB13 , 2G053BC20 , 2G053CA18 , 2G053CB28 , 2G053DA01 , 2G053DB24

引用特許：

出願人引用 (3件)

プローブ装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-051954 出願人：川崎重工業株式会社
特開昭59-160751
欠陥診断方法とその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-039342 出願人：トピー工業株式会社

審査官引用 (6件)

プローブ装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-051954 出願人：川崎重工業株式会社
特開昭59-160751
欠陥診断方法とその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-039342 出願人：トピー工業株式会社

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引用文献：

出願人引用 (2件)

審査官引用 (2件)

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