特許
J-GLOBAL ID:200903020572885450
走査型プローブ顕微鏡
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
竹本 松司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-204859
公開番号(公開出願番号):特開平8-068798
出願日: 1994年08月30日
公開日(公表日): 1996年03月12日
要約:
【要約】【目的】 画像データの管理を容易とすることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。【構成】 試料の表面観察を行う走査型プローブ顕微鏡において、画像データに属性を付与する手段2,6,7と、画像データ及び属性を保持する保持手段3と、属性によって画像データ間の関連性を求める手段4と、求めた画像データ間の関連性に基づいて画像データのデータ管理を行なう手段2とを備え、画像データ間の関連性に基づいて、関連性ある画像データを一まとまりとしてデータ管理を行う。
請求項(抜粋):
試料の表面観察を行う走査型プローブ顕微鏡において、画像データに属性を付与する手段と、画像データ及び属性を保持する保持手段と、前記属性によって画像データ間の関連性を求める手段と、前記関連性に基づいて画像データのデータ管理を行う手段とを備えたことを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。
IPC (2件):
引用特許:
審査官引用 (5件)
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特開平4-072505
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特開平2-015374
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建造物のリモートセンシング方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-126210
出願人:株式会社大林組
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図面管理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-261202
出願人:日本電気株式会社
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特開平4-299774
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