特許
J-GLOBAL ID：200903020744540638
光干渉式流体特性測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木村 勝彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-101491
公開番号（公開出願番号）：特開2000-292351
出願日： 1999年04月08日
公開日（公表日）： 2000年10月20日
要約：
【要約】【課題】 イメージセンサの長大化を招くことなく、測定範囲及びダイナミックレンジを拡大すること。【解決手段】 1サンプリング周期の期間中に、干渉縞の位相変化が±πを越えないように構成された測定セル、及びこれに併設されたリファレンスセルとを通過した光ビームにより生じる干渉縞の像を受けるイメージセンサ14と、イメージセンサ14からの干渉縞信号に含まれる基本波成分の位相θを算出するフーリエ解析手段24と、フーリエ解析手段24で算出された前記位相θが、1サンプリング周期中に前記測定セルの流体特性による位相変化が±πを超えない物理的制約を満足するか否かを判断し、満足する場合には位相θを位相変化量として、また満足しない場合には2πを加減算した値を位相変化量として出力する変移周期数検出手段25及び加減算手段26とを備え、測定セルの流体特性を積極的に利用してフーリエ解析手段24の解の矛盾を排除する。
請求項（抜粋）：
1サンプリング周期の期間中に、干渉縞の位相変化が±πを越えないように構成された測定セル、及びこれに併設されたリファレンスセルと、前記各セルを通過した光ビームにより生じる干渉縞の像を受けるイメージセンサと、前記イメージセンサからの干渉縞信号に含まれる基本波成分の位相θを算出するフーリエ解析手段と、前記フーリエ解析手段で算出された前記位相θが、1サンプリング周期中に前記測定セルの流体特性による位相変化が±πを超えない物理的制約を満足するか否かを判断し、満足する場合には前記位相θを位相変化量として、また満足しない場合には2πを加減算した値を位相変化量として出力する手段とを備えた光干渉式流体特性測定装置。
Fターム (13件)：
2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE09
, 2G059FF01
, 2G059FF09
, 2G059GG02
, 2G059JJ12
, 2G059JJ13
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM09
