特許
J-GLOBAL ID:200903020880733431
結晶化度測定方法及び装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
野口 繁雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-257719
公開番号(公開出願番号):特開平10-082745
出願日: 1996年09月06日
公開日(公表日): 1998年03月31日
要約:
【要約】【課題】 結晶化度を簡便に、精度よく測定できるようにする。【解決手段】 試料をある一定条件で乾燥させたのち、乾燥ガス雰囲気下で、マイクロ波の透過度を検出して結晶化度に関連する指標を求め、これから結晶化度を得る。この指標としては、誘電率ε’または誘電損失率ε”、特にε”/(ε’-1)を用い、既知データと照合して結晶化度を求める。
請求項(抜粋):
試料を予め定められた一定条件で乾燥させたのち、乾燥ガス雰囲気下で、マイクロ波の透過度を検出して結晶化度に関連する指標を求め、これから結晶化度を得ることを特徴とする結晶化度測定方法。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N 22/00 Y
, G01N 22/00 J
, G01N 33/44
引用特許:
審査官引用 (2件)
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ホウケイ酸ガラスの試験方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-348560
出願人:富士通株式会社
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特開昭62-195568
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