特許

J-GLOBAL ID：200903020893193363

システム制御手順自動生成方法および装置

発明者： 細井 大佐
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (5件)： 小栗 昌平 ,  本多 弘徳 ,  市川 利光 ,  高松 猛 ,  濱田 百合子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-326195
公開番号（公開出願番号）：特開2005-092598
出願日： 2003年09月18日
公開日（公表日）： 2005年04月07日
要約：

【課題】システムLSIの機能テスト方法において、テスト実施者がテスト手順書を作成するためにシステムLSI仕様書を分析することを不要にし、システムLSI仕様書と機能記述との間の制御手順確認作業をテスト実施者を介さずに実施可能にする。【解決手段】制御手順自動生成部105においてシステムLSIの機能記述101から機能テストを実施するための制御手順を自動生成し、システムLSI仕様書100から全てのハードウェアの設定パターンを抽出し、比較部106において前記制御手順と前記設定パターンを比較することにより、システムLSI仕様書100に対する前記制御手順の整合性を検証することにより、テスト実施者が前記制御手順に基づいて容易に正確なテスト手順書を作成することを可能にする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

システムLSIの機能検証を行うためのシステム制御手順の自動生成方法において、 前記システムLSIの出力に指定パターンを得るための制御手順を前記システムLSIの機能記述から自動生成するシステム制御手順自動生成方法。

IPC (3件)：

G06F17/50 ,  G01R31/3183 ,  G06F11/22

FI (4件)：

G06F17/50 670K ,  G06F11/22 310R ,  G06F11/22 330B ,  G01R31/28 Q

Fターム (9件)：

2G132AA00 ,  2G132AG15 ,  2G132AL09 ,  5B046AA08 ,  5B046BA09 ,  5B048AA20 ,  5B048CC13 ,  5B048DD03 ,  5B048FF05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• LSIの自動論理検証方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-025145   出願人：三菱電機株式会社