特許
J-GLOBAL ID:200903020916648584
インビトロDNP-NMR測定を行うための装置及び方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
熊倉 禎男
, 大塚 文昭
, 西島 孝喜
, 須田 洋之
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-517405
公開番号(公開出願番号):特表2007-538244
出願日: 2005年05月16日
公開日(公表日): 2007年12月27日
要約:
【課題】サンプルにインビトロでDNP-NMR測定を実施するための装置及び方法を提供する。【解決手段】低温槽(2)に位置して内腔を取り囲み、それぞれのNMR及びDNP作業域(90、92)を形成する磁場発生装置(1a、1b)を含む、サンプルにインビトロDNP-NMR測定を行うための装置。DNP作業域内の適切に調製されたサンプルにDNPを行うためのシステム。NMR作業域内のサンプルにNMR処理を行うためのシステム。内腔(3)に挿入して、次にサンプルを作業域の各々にもたらすことができるサンプル位置決め機構(5)。磁場発生装置は、DNP作業域内の磁場がサンプルにDNPを行うのに適する均一性又はプロフィールを有し、NMR作業域内の磁場がサンプルにNMR処理を行うのに適する均一性又はプロフィールを有するように適切に構造化されている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
サンプルにインビトロDNP-NMR測定を行うための装置であって、
低温槽に位置して内腔を取り囲み、それぞれのNMR及びDNP作業域を形成する磁場発生装置と、
前記DNP作業域内の適切に調製されたサンプルにDNPを行うためのシステムと、
前記NMR作業域内のサンプルにNMR処理を行うためのシステムと、
前記内腔に挿入して、次に、サンプルを前記作業域の各々の中にもたらすことができるサンプル位置決め機構と、
を含み、
前記磁場発生装置は、前記DNP作業域内の磁場が、前記サンプルにDNPを行うのに適する均一性又はプロフィールを有し、前記NMR作業域内の磁場が、該サンプルにNMR処理を行うのに適する均一性又はプロフィールを有するように適切に構造化されている、
ことを特徴とする装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N24/02 B
, G01N24/08 510D
引用特許:
出願人引用 (4件)
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WO-A-03/023432
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WO-A-02/37132
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US-A-6515260
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特許出願WO04/029645
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審査官引用 (4件)