特許
J-GLOBAL ID:200903021175953003

スロットベント開口を有するテストストリップ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 朝日奈 宗太 ,  秋山 文男
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-517460
公開番号(公開出願番号):特表2007-524822
出願日: 2004年06月18日
公開日(公表日): 2007年08月30日
要約:
テストストリップ(10)が、ベース基板(12)、スペース層(14)とボディカバー(18)および室カバー(20)を備えるカバー層(16)を含む。スペース層(14)は、ベース基板(12)およびカバー層(16)のあいだに延伸するサンプル受け取り室(24)を提供するための空隙部分(22)を含む。ベース基板(12)は、複数の電極(28)とコンタクトパッド(32)で終結する電極トレース(30)を含む電極システム(26)をもつ。電極は、サンプル受け取り室(24)内に位置決めされる電極トレース(30)の部分と定義される。適切な試薬システム(33)が、サンプル受け取り室内の電極に重なる。スペース層(14)に重なるボディカバー(18)および室カバーが、そのあいだのスロット(34)を定め、該スロットは、サンプル流体が端開口または流体受け取り開口(35)から室に入るにしたがって、空気を逃すことを可能にするためにサンプル受け取り室と連通するベント開口を定める。したがって、テストストリップは、投与端(36)および計量器挿入端(38)を含む。
請求項(抜粋):
その上に配置されている試薬層を有するベース基板と、 ベース基板に重なり、そのあいだにスロットを有する室カバーおよびボディカバーを備えるカバー層であって、該スロットが試薬層の上に位置決めされ、 ベース基板とカバー層のあいだに配置されるサンプル受け取り室とを備えるテストストリップであって、該スロットが、該サンプル受け取り室と連通しており、流体がサンプル受け取り室に入ってくるにしたがい、空気を逃すことを可能にするカバー層中にベント開口を定めることを特徴とするテストストリップ。
IPC (3件):
G01N 27/28 ,  G01N 27/327 ,  G01N 27/416
FI (3件):
G01N27/28 331Z ,  G01N27/30 353S ,  G01N27/46 338
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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