特許
J-GLOBAL ID:200903021405939242
リード/プログラム電位発生回路
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-276102
公開番号(公開出願番号):特開2005-038544
出願日: 2003年07月17日
公開日(公表日): 2005年02月10日
要約:
【課題】電気的フューズ素子に対するストレス緩和、サイズ縮小を図る。【解決手段】パワーオン時には、VBP発生回路(Power-ON)11Bによりリード電位を発生する。このリード電位を、VBPとして、プログラム素子12に与え、プログラム素子12の状態を検出する。リード電位は、例えば、ロジック電源電位から生成される。プログラム時には、VBP発生回路(Program)11Aによりプログラム電位を発生する。プログラム電位は、例えば、チップ外部から供給され、VBPとして、プログラム素子12に与えられる。リード/プログラム電位が出力されている間は、トランジスタN3のゲートには、VBTとして、例えば、電源電位が供給される。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
フューズ素子に対してプログラミングに必要なプログラム電位を発生する第1電位発生回路と、前記フューズ素子に対してその状態を検査するために必要なリード電位を発生する第2電位発生回路とを具備し、前記リード電位の値は、前記プログラム電位の値よりも低いことを特徴とするリード/プログラム電位発生回路。
IPC (2件):
FI (4件):
G11C29/00 603J
, G11C29/00 603Q
, H01L21/82 A
, H01L21/82 R
Fターム (17件):
5F064AA08
, 5F064BB02
, 5F064BB06
, 5F064BB07
, 5F064CC09
, 5F064FF02
, 5F064FF15
, 5F064FF28
, 5F064FF45
, 5L106AA01
, 5L106CC04
, 5L106CC05
, 5L106CC12
, 5L106CC13
, 5L106CC24
, 5L106EE07
, 5L106GG07
引用特許:
出願人引用 (4件)
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電気フューズ素子を備えた半導体集積回路装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-241753
出願人:株式会社東芝
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フューズ回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-399222
出願人:東芝マイクロエレクトロニクス株式会社, 株式会社東芝
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米国特許第6,278,651号明細書
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米国特許第6,333,667号明細書
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審査官引用 (2件)
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半導体集積回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-371939
出願人:株式会社東芝, 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-005561
出願人:株式会社東芝, 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社
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