特許
J-GLOBAL ID：200903021415964008

高温機器の寿命診断装置、高温機器の寿命診断方法およびプログラム

発明者：
福田 大二郎

福田 大二郎 について

, 
伊藤 洋茂

伊藤 洋茂 について

, 
佐久間 章

佐久間 章 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (4件)： 須山 佐一 ,  川原 行雄 ,  山下 聡 ,  須山 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-174442
公開番号（公開出願番号）：特開2008-003009
出願日： 2006年06月23日
公開日（公表日）： 2008年01月10日
要約：
【課題】クリープき裂進展評価において、き裂進展寿命を適確に評価することができる高温機器の寿命診断装置、高温機器の寿命診断方法およびプログラムを提供することを目的とする。【解決手段】高温機器対象部品選定入力手段20によって入力された情報および温度・応力解析用データベース21に格納された温度・応力解析データから温度および応力の解析を行う温度・応力解析手段22と、温度・応力解析手段22による解析情報、非破壊検査データベース23に格納された非破壊データおよびクリープき裂進展特性データベース24に格納されたクリープき裂進展寿命解析データからクリープき裂進展寿命を解析するクリープき裂進展寿命解析手段25と、クリープき裂進展寿命解析手段による解析情報から高温機器対象物品の交換時期を判定するクリープき裂進展寿命判定手段26とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
高温機器対象物品の選定情報を入力する選定情報入力手段と、 温度および応力を解析するための温度・応力解析データを格納する温度・応力解析用データベースと、 前記選定情報入力手段によって入力された高温機器対象物品の選定情報および前記温度・応力解析用データベースに格納された前記温度・応力解析データに基づいて、温度および応力の解析を行う温度・応力解析手段と、 前記高温機器対象物品の各部位において予め計測された非破壊データを格納する非破壊検査データベースと、 クリープき裂進展寿命を解析するためのクリープき裂進展寿命解析データを格納するクリープき裂進展特性データベースと、 前記温度・応力解析手段によって解析された温度および応力の解析情報、前記非破壊検査データベースに格納された前記非破壊データおよび前記クリープき裂進展特性データベースに格納されたクリープき裂進展寿命解析データに基づいて、クリープき裂進展寿命を解析するクリープき裂進展寿命解析手段と、 前記クリープき裂進展寿命解析手段によって解析されたクリープき裂進展寿命に基づいて、前記高温機器対象物品の交換時期を判定するクリープき裂進展寿命判定手段と を具備することを特徴とする高温機器の寿命診断装置。
IPC (2件)：
G01N 17/00 ,  G01M 19/00
FI (2件)：
G01N17/00 ,  G01M19/00 Z
Fターム (14件)：
2G024AD33 ,  2G024BA12 ,  2G024CA04 ,  2G024CA11 ,  2G024CA17 ,  2G024DA01 ,  2G024DA16 ,  2G024FA02 ,  2G050AA01 ,  2G050BA10 ,  2G050BA12 ,  2G050DA02 ,  2G050EA01 ,  2G050EC05
引用特許：
出願人引用 (4件)
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